苏州联讯仪器取得升降测试装置相关专利,升降装置分散受力,提升探针板升降精度稳定
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苏州联讯仪器取得升降测试装置相关专利,升降装置分散受力,提升探针板升降精度稳定

来源:新浪证券-红岸工作室

5月13日消息,国家知识产权局信息显示,苏州联讯仪器股份有限公司申请一项名为“一种升降装置、晶圆级老化测试装置、设备及系统”的专利,授权公告号CN224226093U,授权公告日为2026年5月12日。申请号为CN202520817154.3,申请公布日期为2026年5月12日,申请日期为2025年4月27日,发明人马召、王勇、徐鹏嵩、杨珉沣,专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司,专利代理师方秀琴,分类号B65G47/74、B65G43/00、F16M11/04、F16M11/18、F16M11/22、G01R1/04、G01R1/02、G01R1/067、G01R31/28。

专利摘要显示,本实用新型公开了一种升降装置、晶圆级老化测试装置、设备及系统,晶圆级老化测试装置包括热沉组件和探针板组件;升降装置包括至少两个升降组件、承重平台和底板,承重平台用于承载热沉组件且纵向位置固定,底板设有至少两个分布设置的支撑位;升降组件包括可移动连接的连接件和移动件,连接件与支撑位固定连接,移动件与探针板组件固定连接,各移动件能够协同带动探针板组件朝向热沉组件移动以合模形成晶圆老化测试腔。本实用新型在至少两个支撑位上分别设置升降组件,分散受力,抗压性能好,各移动件能够协同带动探针板组件升降,提升了探针板组件的升降精度和稳定性,降低噪音。

联讯仪器成立于 2017 年 3 月 15 日,于 2026 年 4 月 24 日在上海证券交易所上市,注册地址和办公地址均位于江苏省苏州市。该公司是国内电子测量仪器和半导体测试设备领域的重要企业,具备较强的技术研发实力。

联讯仪器主营业务为电子测量仪器和半导体测试设备的研发、制造、销售及服务,所属申万行业为机械设备 - 通用设备 - 仪器仪表,所属概念板块包括中盘均衡、大盘、转融券标的。

2025 年,联讯仪器实现营业收入 11.94 亿元,在行业 63 家企业中排名第 13,高于行业平均数 9.62 亿元和中位数 5.51 亿元,与第一名川仪股份 68.05 亿元、第二名咸亨国际 45.61 亿元有差距。其主营业务中,半导体测试设备收入 5.57 亿元,占比 46.66%;电子测量仪器收入 5.46 亿元,占比 45.71%。当期净利润 1.74 亿元,行业排名第 9,高于行业平均数 7261.28 万元和中位数 6753.12 万元,与第一名川仪股份 6.52 亿元、第二名柯力传感 3.91 亿元存在差距。

苏州联讯仪器股份有限公司近期专利情况如下:

序号 专利名称 专利类型 法律状态 申请号 申请日期 公开(公告)号 公开(公告)日期 发明人
1 一种时序对齐方法、装置、介质及设备 发明专利 公布 CN202610438320.8 2026-04-03 CN121967941A 2026-05-01 彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言
2 时序对齐方法、装置、介质及设备 发明专利 公布 CN202610438312.3 2026-04-03 CN121967940A 2026-05-01 梁可、彭兴贵、邵毅男、赵品彰、冯亮
3 一种菜单侧边栏的目标控件控制方法及装置 发明专利 公布 CN202610418457.7 2026-04-01 CN121957442A 2026-05-01 胡靖民、邵毅男、廉哲、赵品彰、孙剑辉
4 一种基于微弱电流测量的阻抗测量装置及方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202610345880.9 2026-03-20 CN121878283A 2026-04-17 邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
5 一种阻抗测量装置及方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202610345874.3 2026-03-20 CN121878281A 2026-04-17 邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
6 一种基于微弱信号处理的阻抗测量装置及方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202610345877.7 2026-03-20 CN121878282A 2026-04-17 邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
7 一种信号均衡方法、装置及电子设备 发明专利 授权 CN202610281681.6 2026-03-10 CN121814517B 2026-05-08 汤鑫、焦健、生兆东、赵品彰、孙剑辉
8 应用于误码仪的自适应均衡方法、装置、介质及设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202610268192.7 2026-03-06 CN121792445A 2026-04-03 董成龙、胡靖民、赵品彰、孙剑辉
9 一种阻抗测量系统及阻抗测量方法 发明专利 公布 CN202610272361.4 2026-03-06 CN121933812A 2026-04-28 廉哲、潘朝松、曹勋、贺江云
10 一种芯片测试设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202610196778.7 2026-02-11 CN121721469A 2026-03-24 李大伦、金鹏
11 校准模型建立方法、装置、设备、介质及仪表校准方法 发明专利 公布 CN202610192131.7 2026-02-10 CN121683297A 2026-03-17 王古龙、杜佳伟
12 一种源测量电路以及电压输出方法 发明专利 公布 CN202610188262.8 2026-02-10 CN121955486A 2026-05-01 夏少俊
13 一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511652101.1 2025-11-12 CN121454284A 2026-02-03 赵山、赵子闯、王飞、谢智寅
14 一种用于COC芯片的上下料机 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511636008.1 2025-11-10 CN121448818A 2026-02-03 徐兴超
15 一种COC芯片的测试系统及测试方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511636002.4 2025-11-10 CN121470122A 2026-02-06 徐兴超
16 一种COC芯片的测试设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511636004.3 2025-11-10 CN121493589A 2026-02-10 徐兴超
17 一种用于芯片的测试夹具及老化设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511619038.1 2025-11-06 CN121142115A 2025-12-16 张爱林、郭孝明、徐鹏嵩
18 一种芯片定位方法、系统及芯片位置矫正装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511584534.8 2025-10-31 CN121120782A 2025-12-12 赵山、施志虎、孙成扬、戈明康
19 一种芯片测试设备 发明专利 公布 CN202511584539.0 2025-10-31 CN121142281A 2025-12-16 赵山、孙成扬、施志虎
20 一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备 发明专利 公布 CN202511584533.3 2025-10-31 CN121207970A 2025-12-26 任鸿昌、施志虎、孙成扬
21 一种芯片搬运装置及芯片测试设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511581612.9 2025-10-31 CN121247341A 2026-01-02 施志虎、文根发、孙成扬、赵山
22 一种芯片吸附设备、芯片测试系统及控制方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511584537.1 2025-10-31 CN121419599A 2026-01-27 赵山、孙成扬、施志虎
23 一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511562197.2 2025-10-29 CN121454266A 2026-02-03 施志虎、赵山、孙成扬
24 一种自适应调节的不平衡供电电路、方法及精密源表 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511425995.0 2025-09-30 CN121097615A 2025-12-09 王玉杰、孙旭
25 一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511306559.1 2025-09-12 CN121143881A 2025-12-16 李甲福、潘朝松、林甲威、徐立
26 一种光模块误码率测试设备 发明专利 授权、实质审查的生效 CN202511259617.X 2025-09-04 CN120811479B 2025-11-18 邓仁辉、邵毅男、廉哲
27 一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511227197.7 2025-08-29 CN120736214A 2025-10-03 孙成扬、任鸿昌
28 一种晶圆上下料机、芯片测试设备及其控制方法 发明专利 授权、公布 CN202511227566.2 2025-08-29 CN120717207B 2025-10-31 孙成扬
29 tray盘上下料机、芯片测试设备及控制方法 发明专利 授权、公布 CN202511227514.5 2025-08-29 CN120717206B 2025-10-31 孙成扬、施志虎
30 一种芯片测试机及芯片测试设备 发明专利 公布 CN202511227676.9 2025-08-29 CN120971936A 2025-11-18 孙成扬
31 芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备 发明专利 公布 CN202511227646.8 2025-08-29 CN121020133A 2025-11-28 孙成扬
32 一种芯片测试设备及测试方法 发明专利 公布 CN202511229965.2 2025-08-29 CN121027144A 2025-11-28 孙成扬
33 一种芯片测试系统及其控制方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511227613.3 2025-08-29 CN121171948A 2025-12-19 孙成扬
34 一种嵌入式设备的检测方法、装置及设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511162042.X 2025-08-19 CN121166416A 2025-12-19 王玲、杜佳伟
35 一种硅光晶圆测试方法及一种硅光晶圆测试装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202511098038.1 2025-08-06 CN120629900A 2025-09-12 陆姜鹏、谢智寅、施志虎、强飞飞
36 一种芯片探针卡平面度调节机构及芯片测试设备 发明专利 公布 CN202511095277.1 2025-08-06 CN120685942A 2025-09-23 孙成扬、施志虎
37 一种旋转中心标定方法、位姿调整机构及晶圆测试装置 发明专利 授权 CN202511098047.0 2025-08-06 CN120593625B 2025-11-18 张恒、周立东、施志虎、陈伟伟
38 晶圆测试设备 外观专利 授权 CN202530360984.3 2025-06-23 CN309762341S 2026-01-30 余忆、丁浩
39 一种具有散热功能的光模块误码测试装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510833612.7 2025-06-20 CN120710585A 2025-09-26 邓仁辉、邵毅男、廉哲
40 一种晶圆老化测试方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510793002.9 2025-06-13 CN120629876A 2025-09-12 张爱林
41 芯片独立控温系统及方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510778076.5 2025-06-11 CN120631089A 2025-09-12 刘俊涛、郭世成、谢高虎、唐仁伟
42 芯片独立控温系统 实用新型 授权 CN202521194063.5 2025-06-11 CN224203624U 2026-05-05 刘俊涛、郭世成、谢高虎、唐仁伟
43 一种用于晶圆测试夹具的装拆机构 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510721694.6 2025-05-30 CN120468466A 2025-08-12 李帆、宋承佩、马飞
44 一种晶圆测试设备 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510721707.X 2025-05-30 CN120559422A 2025-08-29 李帆、宋承佩、马飞
45 一种晶圆测试设备及控制方法 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510721701.2 2025-05-30 CN120600674A 2025-09-05 李帆、宋承佩、马飞
46 一种热沉和晶圆的上下料装置 发明专利 实质审查的生效、公布 CN202510721698.4 2025-05-30 CN120600673A 2025-09-05 李帆、宋承佩、马飞
47 晶圆老化设备 外观专利 授权 CN202530312077.1 2025-05-30 CN309754765S 2026-01-27 李帆、宋承佩、马飞、孙伟威
48 一种阻尼轮及输送装置 实用新型 授权 CN202521109483.9 2025-05-30 CN224147023U 2026-04-21 李帆、宋承佩、马飞
49 一种探针座的锁紧装置及晶圆测试设备 实用新型 授权 CN202521108501.1 2025-05-30 CN224163719U 2026-04-24 李帆、宋承佩、马飞
50 一种晶圆测试设备的压接装置及晶圆测试设备 实用新型 授权 CN202521109538.6 2025-05-30 CN224163720U 2026-04-24 李帆、宋承佩、马飞

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